(BIM-WPG)物件翹曲檢測機

規格

 
規格型號: SCN-D4520-015
解析度(um): 15 * 15 * 0.5
FOV (mm): 36 * 26
檢測速度(Sec/片): 約 2 秒
建議應用: 半導體晶片翹曲
 
 
規格型號: SCN-D4520-030
解析度(um): 30 * 30 * 1
FOV (mm): 77 * 54
檢測速度(Sec/片): 約 2 秒
建議應用: 薄型散熱片(SVC, Slim Vapor Chamber)、散熱片(VC, Vapor Chamber)
 
 
規格型號: SCN-D4520-060
解析度(um): 62 * 62 * 2.7
FOV (mm): 151 * 107
檢測速度(Sec/片): 約 2 秒
建議應用: 金屬加工件、MIM金屬射出成型